How to generate high quality tests for digital systems
Ubar R.Aarna M.Kruus H.Raik J.
2004 International semiconductor conference :
. s.459-462
článok zo zborníka
(1) - článok
Citácie
článok
Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom
ako používame cookies.