Výsledky vyhľadávania
- AES, SIMS a SEM v diagnostike technologických krokov v mikroelektronike a mikromechanike / aut. Magdaléna Matečková, Jozef Kocanda, Juraj Breza, Marián Veselý, Vladimír Fesič
Matečková Magdaléna ; E030 Kocanda Jozef Breza Juraj ; E030 Veselý Marián ; E030 Fesič Vladimír
Jemná mechanika a optika : . Roč. 38, č. 12 (1993), s.
článok z periodika
ADE - 12/Vedecké práce v zahraničných nekarentovaných časopisoch ; 13/Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
článok
- Štúdium laserom ryhovaných GaAs substrátov metódami SIMS a SEM / Jozef Kocanda, Vladimír Fesič, Magdaléna Matečková, Jaroslav Parízek, Juraj Breza
Kocanda Jozef Fesič Vladimír Matečková Magdaléna ; E030 Parízek Jaroslav Breza Juraj ; E030
Jemná mechanika a optika . Roč. 37, (1992), č. 9-10, s. 450-454
článok z periodika
ADE - 12/Vedecké práce v zahraničných nekarentovaných časopisoch ; 13/Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisučlánok