Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 40  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu + druh.dok = "^stu_us_auth stu4296 xcla^"
  1. Study of Effect of Phosphorous Cross-Contamination for Antimony Implantation on Electrical Properties of Semiconductor Devices
    Kuruc Marián  Hulényi Ladislav ; E210 Kinder Rudolf ; E030 Žiška Milan ; E030
    EDS´09. Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2009 : . s.147-151
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  2. Using Spreading Resistance Profiling and Simulations for Monitoring of Phosphorus Contamination in Ion Implantation of Arsenic
    Kuruc Marián  Hulényi Ladislav ; E210 Kinder Rudolf ; E030
    EDS´08. Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2008 : . s.103-108
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  3. Factors Influencing the Electrical Properties of Organic Thin Film Transistors
    Kinder Rudolf ; E030  Kováč Jaroslav ; E030 Jakabovič Ján ; E030 Harmatha Ladislav ; E030 Hulényi Ladislav ; E210
    EDS´08. Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2008 : . s.109-114
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  4. Improved Determination of Phosphorus Contamination during Ion Implantation by SRP and Simulations
    Kuruc Marián  Hulényi Ladislav ; E210 Kinder Rudolf ; E030
    Applied Surface Science . Vol. 255 (2008), s.8110-8114
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    článok

    článok

  5. Analysis and Correction of Carrier Spilling Effect for Different Si Structures
    Kuruc Marián  Hulényi Ladislav ; E210 Kinder Rudolf ; E030
    Journal of Electrical Engineering . Vol. 59, No. 6 (2008), s.302-309
    článok z periodika
    ADF - 12/Vedecké práce v domácich nekarentovaných časopisoch ; 13/Vedecké práce v ostatných domácich časopisoch
    článok

    článok

  6. Monitoring of Phosphorus Cross-Contamination in Ion Implantation of Arsenic by Spreading Resistance Profiling and Simulations
    Kuruc Marián  Hulényi Ladislav ; E210 Kinder Rudolf ; E030
    ElectroScope [elektronický zdroj] . mimoriadne č. (konference EDS) (2008), s.http://147.228.94.30/index.php?option=com_content&task=view&id=154&Itemid=38
    článok z periodika
    GHG - Práce zverejnené na internete
    článok

    článok

  7. Photodiode - a General Microelectrode Device as a Part of Blended Learning
    Pavlovič Matúš ; E  Stuchlíková Ľubica ; E030 Hulényi Ladislav ; E210
    ŠVOČ 2007. Zborník víťazných prác : . s.CD-Rom
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  8. Analysis of Carrier Spilling Effect for Different Si Structures
    Kuruc Marián  Hulényi Ladislav ; E210 Kinder Rudolf ; E030
    APCOM 2007. Applied Physics of Condensed Matter : . s.155-158
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  9. A Study of the Effects of the Base Doping Profile on SiGe Heterojunction Bipolar Transistor
    Kinder Rudolf ; E030  Beňo Peter Schwierz Frank Hulényi Ladislav ; E210 Breza Juraj ; E030 Grmanová Alena ; E030
    APCOM 2007. Applied Physics of Condensed Matter : . s.195-198
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  10. An Automatic Measurement System with Spreading Resistance and PCIV Profiling for Characterization of Semiconductors
    Kinder Rudolf ; E030  Hulényi Ladislav ; E210 Hudec Ladislav ; 070400 Chmel T. Kuruc Marián
    Journal of Electrical Engineering . Vol. 58, No. 3 (2007), s.165-168
    rozložená rezistencia PCIV SUPREM Si
    článok z periodika
    ADF - 12/Vedecké práce v domácich nekarentovaných časopisoch ; 13/Vedecké práce v ostatných domácich časopisoch
    článok

    článok