Výsledky vyhľadávania

  1. Investigation of electrically active defects in InAlGaN/GaN/SiC HEMT / aut. Jakub Vadovský, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Jaroslav Kováč, Sylvain Laurent Delage, Ľubica Stuchlíková
    Vadovský Jakub ; 030000  Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ADEPT 2020 : . S. 179-182
    HEMT DLTFS InAlGaN GTML FAT Schottky barrier
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  2. DLTS Study of Electrically Active Defects in InAlGaN/GaN HEMT Structures for 5G / aut. Jakub Vadovský, Arpád Kósa, Matúš M, Jakub Drobný, Peter Benko, Jaroslav jr Kováč
    Vadovský Jakub ; 030000  Kósa Arpád ; 033000 Matúš M. Drobný Jakub ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
    Solid State Surfaces and Interfaces : . S. 103-104
    článok zo zborníka
    AFH - Abstrakty príspevkov z domácich konferencií
    článok

    článok

  3. Study of emission and capture processes in advanced structures based on GaN / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Jaroslav jr Kováč
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000
    Solid State Surfaces and Interfaces : . S. 86-89
    článok zo zborníka
    AFF - Abstrakty pozvaných príspevkov z domácich konferencií
    článok

    článok

  4. Study of emission and capture processes in AlGaN/GaN HEMTs for 5G / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Martin Florovič, Sylvain Laurent Delage, Jaroslav Kováč, Jaroslav jr Kováč
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Florovič Martin ; 033000 Delage Sylvain Laurent Kováč Jaroslav ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000
    ADEPT 2020 : . S. 37-40
    DLTS AlGaN/GaN HEMT defects
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  5. DLTS study of emission and capture processes in InAlGaN/GaN HEMT structures for 5G / aut. Michal Matúš, Jakub Drobný, Jakub Vadovský, Arpád Kósa, Peter Benko, Jaroslav jr Kováč, Sylvain Laurent Delage, Ľubica Stuchlíková
    Matúš Matej  Drobný Jakub ; 033000 Vadovský Jakub ; 030000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ASDAM 2020 : . S. 119-122
    https://ieeexplore.ieee.org/document/9393839
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  6. Deriving the exchange times for a model of trap-assisted tunnelling / aut. Juraj Racko, Miroslav Mikolášek, Magdaléna Kadlečíková, Aleš Chvála
    Racko Juraj  Mikolášek Miroslav ; 033000 Kadlečíková Magdaléna ; 033000 Benko Peter ; 033000 Chvála Aleš ; 033000
    Journal of Electrical Engineering : . Vol. 71, No. 1 (2020), s. 31-36
    trap-assisted tunnelling capture and emission probability exchange times
    https://content.sciendo.com/view/journals/jee/71/1/article-p31.xml?language=de
    článok z periodika
    ADN - 13/NOVÉ Vedecké práce v domácich časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
    článok

    článok

  7. Vertical current transport processes in MOS-HEMT heterostructures / aut. Juraj Racko, Tibor Lalinský, Miroslav Mikolášek, Peter Benko, Sebastian Thiele, Frank Schwierz, Juraj Breza
    Racko Juraj  Lalinský Tibor Mikolášek Miroslav ; 033000 Benko Peter ; 033000 Thiele Sebastian Schwierz Frank Breza Juraj ; 033000
    Applied Surface Science . Vol. 527, (2020), Art. no. 146605 [8] s.
    GaN AlGaN Heterostructures Vertical current
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433220313623
    článok z periodika
    ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    článok

    článok

  8. Defect analysis of Ni-Au/AlN/p-Si MIS capacitors / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Peter Benko, Arpád Kósa, Miroslav Mikolášek, Aleš Chvála, Juraj Marek
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Mikolášek Miroslav ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000
    ADEPT 2019 : . S. 223-226
    defect analysis DLTFS C-V Ni-Au/AlN/p-Si MIS capacitors
    článok zo zborníka
    AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  9. Čierny kremík pre fotovoltické aplikácie / aut. Peter Benko, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Ladislav Harmatha, Miroslav Mikolášek, Erik Svitač, Ľubica Stuchlíková
    Benko Peter ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Harmatha Ladislav ; 033000 Mikolášek Miroslav ; 033000 Svitač Erik ; 030000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
    Matematika, informační technologie a aplikované vědy : . CD-ROM, [5] s.
    článok zo zborníka
    AFG - Abstrakty príspevkov zo zahraničných konferencií
    článok

    článok

  10. Defect analysis of InAlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Jakub Vadovský, Peter Benko, Aurel Škoda, Sylvain Laurent Delage, Jaroslav jr Kováč
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Vadovský Jakub Benko Peter ; 033000 Škoda Aurel Delage Sylvain Laurent Kováč Jaroslav jr. ; 033000
    WOCSDICE 2019 : . [2] s.
    článok zo zborníka
    BEE - 13/Odborné práce v zahraničných zborníkoch (konferenčných aj nekonferenčných); 12/(len nerecenzované)
    článok

    článok