Výsledky vyhľadávania

Nájdených záznamov: 5  
Váš dotaz: Autor-kód záznamu + druh.dok = "^stu_us_auth stu45748 ddp^"
  1. Meranie teplotných závislostí rezistivity tenkých vrstiev Ru-SiO pre pokročilú CMOS technológiu
    Fajta Michal  Ťapajna Milan (škol.) ; E210 Harmatha Ladislav (škol.) ; E030
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2008
    FEI ; . - 60 s
    elektronika Mikroelektronika meranie teploty CMOS
    diplomová práca
    kniha

    kniha

  2. Vplyv techniky depozície Ru a RuO2 kovových hradiel na elektrické vlastnosti štruktúr MOS a Ta2O5 hradlovýcm dielektrikom
    Hudák Erik  Harmatha Ladislav (škol.) ; E030 Ťapajna Milan (škol.) ; E210
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2008
    FEI ; . - 42 s
    elektronika Mikroelektronika
    diplomová práca
    kniha

    kniha

  3. Analýza prúdovo-napäťových charakteristík štruktúr MOS s tenkými dielektrickýcmi vrstvami s vysokou dielektrickou konštatantou
    Vernarský Vladimír  Ťapajna Milan (škol.) ; E210 Harmatha Ladislav (škol.) ; E030
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2007
    FEI ; . - 42 s
    Mikroelektronika MOS štruktúry tenké vrstvy meranie dielektrických veličín
    diplomová práca
    kniha

    kniha

  4. Určovanie generačnej doby života v štruktúrach MOS s dusíkom dotovaným Si substrátom
    Bobula Juraj  Ťapajna Milan (škol.) ; E210
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2005
    FEI ; . - 41 s
    elektronika
    diplomová práca
    kniha

    kniha

  5. Výskum unipolárnych štruktúr MOS v nerovnovážnom stave
    Ťapajna Milan ; E210  Harmatha Ladislav (škol.) ; E030
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2002 . - 63 s
    elektronika
    diplomová práca
    kniha

    kniha



  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.