Analýza reziduálnych napätí v tenkých vrstvách pomocou rtg difrakcie pri malom uhle dopadu : dát. obhaj. 23.8.2017, č. ved. odb. 5-2-48
Novák Patrik ; 036000  Dobročka Edmund (škol.)
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2017
FEI ; 23.08.2017 ; 5.2.48. fyzikálne inžinierstvo ; D-FYZ . - 119 s., AUTOREF. 2017, 29 s.

http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=130792
dizertačná práca
DAI - Dizertačné a habilitačné práce