Výsledky vyhľadávania
- Built-In Current Monitor for IDDQ Testing in CMOS 90 nm Technology
Beresiňski M.J. Borejko T. Pleskacz W.A. Stopjaková Viera ; E030
2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems . s.259-262
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - DefSim: A remote Laboratory for Studying Physical Defects in CMOS Digital Circuits
Pleskacz W.A. Stopjaková Viera ; E030 Borejko T. Jutman A.
IEEE Transactions on Industrial Electronics . Vol. 55, No. 6 (2008), s.2405-2415
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu - CMOS Defects Analysis Using DefSim Measurement Environment
Pleskacz W.A. Borejko T. Walkanis A. Stopjaková Viera ; E030 Jutman A. Ubar Raimund
ETS '06 : . s.241-246
článok z periodika
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu - DefSim: CMOS Defects on Chip for Research and Education
Pleskacz W.A. Borejko T. Walkanis A. Stopjaková Viera ; E030 Jutman A. Ubar Raimund
7th IEEE Latin American Test Workshop : . s.74-79
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - DefSim-Based Exercises for Studying in CMOS Gates
Jutman A. Pleskacz W.A. Ubar Raimund
EWME 2006. Proceedings. 6th European Workshop on Microelectronics Education : . s.23-26
článok zo zborníka
(2) - článok - DefSim: Measurement environment for CMOS defects
Borejko T. Jutman A. Pleskacz W.A. Ubar Raimund
International Conference on Microelectronics. IMC 2006 : . s.679-682
článok zo zborníka - DefSim - the Educational Integrated Circuit for Defect Simulation
Pleskacz W.A. Borejko T. Gugala T. Pizon P. Stopjaková Viera ; E030
Microelectronic systems education : . s.121-122
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage
Cibáková T. Fischerová M. Gramatová Elena ; 070400 Kuzmicz W. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
Microelectronics Reliability . Vol. 42, Iss. 7 (2002), s.1141-1149
defekty digitálny obvod generovanie testov
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch - Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
Blyzniuk M. Cibáková T. Gramatová Elena ; I100 Kuzmicz W. Lobur M. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
IEEE European Test Workshop 2000 : . s.69-74
digitálny obvod defekty porucha generovanie testov
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Characterization of CMOS sequential standard cells for defect based voltage testing
Wielgus A. Pleskacz W.A.
EWDTS'08 : . s.49-54
článok zo zborníka
(1) - článok