Výsledky vyhľadávania
- Aplikácia Al2O3 dielektrických vrstviev v technológii tranzistorov a heteropriechodom na báze InAlN/GaN : č.ved.odb.: 26-13-9, dát. obhaj. 1.2.2010
Čičo Karol Kuzmík Ján (škol.)
Bratislava : Elektrotechnický ústav SAV, 2009 . - 107 s
MOS štruktúry tenké vrstvy meranie dielektrických veličín tranzistory
dizertačná prácaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 1 0 0 0