Výsledky vyhľadávania
- Rozvoj parametrických metód pre vstavaný test analógových integrovaných obvodov : dát. obhaj. 30.5.2013, č. ved. odb. 5-2-13
Arbet Daniel ; E030 Stopjaková Viera (škol.) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2013 . - 115 s
Mikroelektronika Microelectronics nanotechnology nanotechnológie analógové integrované obvody
http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=71520
dizertačná práca
DAI - Dizertačné a habilitačné práceFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 1 0 0 0 
kniha
- Technológia a charakterizácia tenkých vrstiev nitridov a oxidov kovov pre použitie v mikroelektronike, senzorike a mikrosystémovej technike : dát. obhaj. 7.5.2010, č.ved.odb. 26-35-9
Hotový Ivan ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2010 . - 152 s
elektrotechnológia a materiály nanotechnológie tenké vrstvy Mikroelektronika mikrosenzory mikrosystémy
dizertačná práca
DAI - Dizertačné a habilitačné práceFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 1 0 0 0 kniha