Výsledky vyhľadávania

  1. Rozvoj parametrických metód pre vstavaný test analógových integrovaných obvodov : dát. obhaj. 30.5.2013, č. ved. odb. 5-2-13
    Arbet Daniel ; E030  Stopjaková Viera (škol.) ; E030
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2013 . - 115 s
    Mikroelektronika Microelectronics nanotechnology nanotechnológie analógové integrované obvody
    http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=71520
    dizertačná práca
    DAI - Dizertačné a habilitačné práce
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI1000
    kniha

    kniha

  2. Technológia a charakterizácia tenkých vrstiev nitridov a oxidov kovov pre použitie v mikroelektronike, senzorike a mikrosystémovej technike : dát. obhaj. 7.5.2010, č.ved.odb. 26-35-9
    Hotový Ivan ; E030 
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2010 . - 152 s
    elektrotechnológia a materiály nanotechnológie tenké vrstvy Mikroelektronika mikrosenzory mikrosystémy
    dizertačná práca
    DAI - Dizertačné a habilitačné práce
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI1000
    kniha

    kniha