Výsledky vyhľadávania
- Some results in automatic functional test design for processors
Hudec Ján ; I100
Lecture Notes in Electrical Engineering : . Vol. 151 Emerging Trends in Computing, Informatics, Systems Sciences, and Engineering (2013), s. 965-972
generovanie testov simulácia a verifikácia testov funkčný test procesora
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
článok
- Defects, faults, fault models
Gramatová Elena ; I100 Ubar Raimund Pleskacz Witold Fischerová Mária
Handbook of Testing electronic Systems / . s.26-96
elektronický obvod defekty porucha generovanie testov testovateľnosť
kapitola(článok) z dokumentu
ACC - Kapitoly vo vysokoškolských učebniciach vydané v zahraničných vydavateľstváchčlánok
- Internet-based collaborative test generation with MOSCITO
Schneider A. Ivask E. Mikloš Peter Raik J. Diener K.-H Ubar R. Cibáková T. Gramatová Elena ; 070400
DATE'02 : . s.221-226
digitálny obvod generovanie testov internetové technológie
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciáchčlánok
- Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage
Cibáková T. Fischerová M. Gramatová Elena ; 070400 Kuzmicz W. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
Microelectronics Reliability . Vol. 42, Iss. 7 (2002), s.1141-1149
defekty digitálny obvod generovanie testov
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisochčlánok
- Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
Blyzniuk M. Cibáková T. Gramatová Elena ; I100 Kuzmicz W. Lobur M. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
IEEE European Test Workshop 2000 : . s.69-74
digitálny obvod defekty porucha generovanie testov
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciáchčlánok