Výsledky vyhľadávania
- SIA. Surface and interface analysis : Konf. ECASIA 93, Catania, Italia, 4.- 8. Oct. 1993
1.vyd.
Chichester : John Wiley & Sons, 1994 . - 619 s
ISSN 0142-2421
fyzika povrchov fyzika tenkých vrstiev elektrónová spektroskopia fyzika tuhých látok fyzika polovodičov Mikroelektronika
zborníkFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 0 0 1 - Diagnostics and applications of thin films : Konf. Proceedings of the International Summer School, Chlum u Třeboně, Czechoslovakia, 27. May - 5. June 1991 / Edit.: Eckertová,L.; Růžička,T
Růžička T (xxx) Eckertová Ludmila (zost.)
Bristol : Institute of Physics Publishing, 1992 . - 314 s
ISBN 0-7503-0165-1
tenké vrstvy fyzika tenkých vrstiev diagnostika tenkých vrstiev elektrónová mikroskopia
zborník - High-Tc superconductivity: thin films and devices : Konf. Newposrt Beach, California, 16.- 17. March 1988 / Edit.: Dover,R.Bruce, van; Chi,Cheng-Chung
Dover R.Bruce van (zost.) Chi Cheng-Chung (xxx)
Bellingham : SPIE - The International Society for Optical Engineering, 1988 . - 106 s
ISBN 0-89252-983-0
tenké vrstvy fyzika tenkých vrstiev príprava tenkých vrstiev supravodivosť Mikroelektronika supravodivé vrstvy
zborníkFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 0 0 1 - Metallurgical coatings 1987 : Proceedings : Konf. San Diego, USA, 23.- 27. March 1987 / Edit.: Krutenat,R.C
Krutenat R.C (zost.)
1.vyd.
London : Elsevier Applied Science, 1987 . - 530 s
ISBN 1-85166-181-6
fyzika povrchov tenké vrstvy Pokovovanie fyzika tenkých vrstiev
zborníkFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 0 0 1