Výsledky vyhľadávania
- Fundamental principles of engineering nanometrology
Leach Richard K.
Amsterdam : Elsevier, 2010 . - 321 s
ISBN 978-0-08-096454-6
mikrotechnológie nanotechnológie meracie prístroje metrológia meranie
monografiaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné MTF 0 0 1 0 
kniha
- Measurement science for engineers
Regtien Paul
London : Kogan Page, 2004 . - 358 s
ISBN 1-903996-58-9
meranie
monografiaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 0 0 1 SJF 0 1 0 0 kniha
- Kompendium statistického zpracování dat : Metody a řešené úlohy včetně CD
Meloun Milan Militký Jiří
Praha : Academie, 2002 . - 764 s. Tab.,grafy,lit
ISBN 80-200-1008-4
spracovanie dát štatistika štatistická analýza meranie
monografiaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FCHPT 0 0 0 2 FEI 0 0 0 2 SJF 0 1 0 1 kniha
- Systém riadenia merania
Palenčár Rudolf ; J110 Kureková Eva ; J110 Vdoleček František Halaj Martin ; J110
1.vyd.
Bratislava : STU v Bratislave, 2001 . - 208 s
ISBN 80-968449-7-0
meranie metrológia skúšobníctvo akreditácia kalibrácia
monografia
AAB - Vedecké monografie vydané v domácich vydavateľstváchFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 1 0 0 SJF 0 1 0 1 kniha
- Štatistické metódy v metrologických a skúšobných laboratóriách
Palenčár Rudolf ; J110 Ruiz Jean Michel Janiga Ivan ; J210 Horníková Adriana
1. vyd.
Bratislava : STU v Bratislave, 2001 . - 366 s. Tab.,grafy,lit
ISBN 80-968449-3-8
metódy štatistické štatistika meranie skúšobníctvo akreditácia modelovanie plánovanie experimentov metrológia
monografia
(1) - xxxFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FCHPT 0 0 0 1 FEI 0 1 0 1 SJF 5 0 3 1 MTF 11 1 3 0 kniha
- Meranie technických veličín
Chudý Vladimír ; J110 Palenčár Rudolf ; J110 Kureková Eva ; J110 Halaj Martin ; J110
1. vyd.
Bratislava : STU v Bratislave, 1999 . - 688 s
ISBN 80-227-1275-2
meranie metrológia technika meracia
monografia
ACB - Vysokoškolské učebnice vydané v domácich vydavateľstváchFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné SJF 108 1 8 2 MTF 3 1 1 0 kniha
- Metrologické zabezpečenie systémov riadenia kvality
Palenčár Rudolf ; J110 Halaj Martin ; J110
Bratislava : STU v Bratislave, 1998 . - 138 s
ISBN 80-227-1171-3
meranie metrológia štatistika skúšobníctvo akreditácia kalibrácia riadenie kvality
monografia
AAB - Vedecké monografie vydané v domácich vydavateľstváchFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 1 0 2 SJF 6 1 1 0 kniha
- Statistické zpracování experimentálních dat v chemometrii, biometrii, ekonometrii a v dalších oborech přírodních technických a spoločenských věd
Meloun Milan Militky Jiří
2.vydanie
Praha : EAST Publishing, a.s., 1998 . - 839 s
ISBN 80-7219-003-2
spracovanie dát štatistika štatistická analýza meranie
monografiaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FCHPT 0 1 0 1 FEI 0 0 0 3 kniha
- Semiconductor Measurements and Instrumentation
Runyan W.R Shaffner T.J.
New York : McGraw-Hill, 1997 . - 454 s
ISBN 0-07-057697-1
polovodiče meranie Mikroelektronika integrované obvody
monografiaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 0 0 1 kniha
- Annual Book ASTM Standards : General Methods and Instrumentation. Volume 14.03. Temperature Measurement
Danvers : ASTM, 1997 . - 644 s
ISBN 0-8031-2456-2
teplo meranie meranie teploty
monografiaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné MTF 1 0 0 0 kniha