CCII+ Current Conveyor Based BIC Monitor for IDDQ Testing of Complex CMOS Circuits
Stopjaková Viera ; E030  Manhaeve Hans
European design & test conference : . , s.266-270
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka