Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage
Cibáková T.  Fischerová M. Gramatová Elena ; 070400 Kuzmicz W. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
Microelectronics Reliability . Vol. 42, Iss. 7 (2002), s.1141-1149
defekty digitálny obvod generovanie testov
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch