Výsledky vyhľadávania
- SiC Power TrenchMOS Transistor under harsh repetitive switching conditions / aut. Juraj Marek, Michal Minárik, Matej Matuš, Jozef Kozárik, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
EPE´23 ECCE Europe : . [8] s.
charge trap states reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS repetitive short circuit
https://ieeexplore.ieee.org/document/10264402
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
článok
- The influence of repetitive UIS on electrical properties of advanced automotive power transistors / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Aleš Chvála, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
Advances in Electrical and Electronic Engineering : . Vol. 20, No. 1 (2022), s. 86-94
degradation DLTS repetitive avalanching repetitive unclamped inductive switching TCAD
http://advances.utc.sk/index.php/AEEE/article/view/4120
článok z periodika
ADM - 13/NOVÉ Vedecké práce v zahraničných časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisučlánok
- Electrical performance degradation of power p-GaN HEMTs exposed to repetitive short circuit conditions / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Aleš Chvála, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
WOCSDICE‐EXMATEC 2022 : . S. OP106-OP107
článok zo zborníka
BEE - 13/Odborné práce v zahraničných zborníkoch (konferenčných aj nekonferenčných); 12/(len nerecenzované)
O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníkačlánok
- Analysis of 15 A–1200 V class IGBTs under repeitive SC conditions / aut. Juraj Marek, Michal Minárik, Jozef Kozárik, Martin Jagelka
Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Jagelka Martin ; 033000
ADEPT 2022 : . S. 205-208
reliability degradation IGBT repetitive short circuit
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- SiC power TrenchMOS transistor under repetitive avalanche stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Aleš Chvála, Matej Matúš, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
ASDAM 2022 : . S. 183-186
https://ieeexplore.ieee.org/document/9966790
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- Effect of repetitive short-circuit stress on dynRdson of p-GaN HEMT / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Aleš Chvála, Michal Minárik
Kozárik Jozef ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Minárik Michal ; 033000
ASDAM 2022 : . S. 191-194
https://ieeexplore.ieee.org/document/9966798
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- Measurement of dynamic on-resistance of packaged and unpackaged GaN HEMTs and effect of repetitive short-circuit stress / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Michal Minárik, Aleš Chvála, Krisztián Gašparek, Martin Donoval
Kozárik Jozef ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Gašparek Krisztián ; 033000 Donoval Martin ; 030690
ADEPT 2022 : . S. 161-164
GaN HEMT dynamic on-resistance on-die testing repetitive short-circuit
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- Modelovanie a simulácia mikrogridov v podmienkach Slovenska / aut. Dagmar Jurásová, Martin Holiš, Rastislav Krbaťa, Jakub Slávik, Michal Minárik
Jarásová Dagmar Holiš Martin Krbaťa Rastislav Slávik Jakub ; 032000 Minárik Michal ; 033000
Inteligentné a bezpečné informačno komunikačné technológie a systémy : . S. 34-37
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- Charge trap states of sic power trenchmos transistor under repetitive unclamped inductive switching stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Aleš Chvála, Matej Matuš, Martin Donoval, Ľubica Stuchlíková, Martin Weis
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Donoval Martin ; 030690 Stuchlíková Ľubica ; 033000 Weis Martin ; 033000
Materials . Vol. 15, iss. 22 (2022), Art. no. 8230 [11] s.
charge trap states reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS
https://www.mdpi.com/1996-1944/15/22/8230
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisučlánok
- Embedded Rogowski coil for wide bandwidth switch current monitoring / aut. Michal Minárik, Juraj Marek, Alexander Šatka
Minárik Michal ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000
ASDAM 2022 : . S. 187-190
https://ieeexplore.ieee.org/document/9966761
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok