Výsledky vyhľadávania
- Inverter for the Electric Vehicle Permanent Magnet Synchronous Motor
Minárik Michal ; 033000 Kubinec Peter ; 033000 (škol.)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
FEI ; Dátum obhajoby : 09.06.2020 ; Študijný odbor : elektrotechnika ; Študijný program : I-EN . - 97 s.
https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=6A51EE906317AC868828E5B2A649&seo=CRZP-detail-kniha
diplomová práca
kniha
- Impact of repetitive inductive switching on degradation of power SiC MOSFETs / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Michal Minárik, Pavol Špánik, Martin Jagelka, Martin Donoval
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Špánik P. Jagelka Martin ; 033000 Donoval Martin ; 030690
ADEPT 2020 : . S. 49-52
4H-SiC MOSFETs electrical parameters degradation hot carriers repetitive unclamped inductive switching
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
článok
- Design of double-pulse tester for on-die measurement of GaN HEMT dynamic on-resistance / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Aleš Chvála, Michal Minárik, Martin Donoval, Martin Jagelka, Daniel Donoval
Kozárik Jozef ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Donoval Martin ; 030690 Jagelka Martin ; 033000 Donoval Daniel ; 033000
ADEPT 2020 : . S. 111-114
GaN HEMT dynamic on-resistance double-pulse test on-die testing
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciáchčlánok
- Impact of repetitive UIS and SC stress on degradation of power SIC trenchMOSFETS / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Michal Minárik, P Špánik, Martin Jagelka, Daniel Donoval, Martin Donoval
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Špánik P. Jagelka Martin ; 033000 Donoval Daniel ; 033000 Donoval Martin ; 030690
ASDAM 2020 : . S. 92-95
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciáchčlánok
- Degradation of 600V GaN HEMTs under repetitive short circuit conditions / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Michal Minárik, Aleš Chvála, Ľuboš Černaj, Martin Donoval, Daniel Donoval
Kozárik Jozef ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Černaj Ľuboš ; 033000 Donoval Martin ; 030690 Donoval Daniel ; 033000
ASDAM 2020 : . S. 127-130
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciáchčlánok
- Prenos rýchlych analógových signálov po optickom vedení
Minárik Michal ; 033000 Štofanik Vladimír ; 033000 (škol.)
2018
FEI ; Dátum obhajoby : 03.07.2018 ; Študijný odbor : 5.2.13. elektronika ; Študijný program : B-ELN . - 55 s., CD-ROM
http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=137363
bakalárska prácaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 1 0 0 kniha
- Diagnostika štruktúr MOS pre pokročilú CMOS technológiu
Minárik Michal ; E Harmatha Ladislav (škol.) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2008 . - 48 s
elektronika Mikroelektronika
diplomová prácaFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 0 0 1 kniha
- 70 rokov SvF STU : Medzinárodná vedecká konferencia. Bratislava, SR, 4.-5.12.2008 elektronický zdroj
Grmanová, Alžbeta, ; V250 (ed.) Minárik, Michal (ed.)
Bratislava : STU v Bratislave SvF, 2008 . - CD-ROM
ISBN 978-80-227-2979-6
zborník (príspevkov)
FAI - Redakčné a zostavovateľské práce knižného charakteru (bibliografie, encyklopédie, katalógy, slovníky, zborníky...)
(132) - článokFakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné FEI 0 0 0 1 MTF 0 0 2 0 SVF 0 1 0 0 kniha
- Diagnostika štruktúr MOS novej generácie
Minárik Michal ; E Harmatha Ladislav ; E030
ŠVOČ 2007. Zborník víťazných prác : . s.CD-Rom
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciáchčlánok
- K používaniu Langbeinovho vzorca pre dobu opakovania v hodnotení povodňového rizika
Szolgay Ján ; V160 Kohnová Silvia ; V160 Hlavčová Kamila ; V160 Minárik Michal ; E
Rizika ve vodním hospodářství 2007 : . s.494-499
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciáchčlánok