Výsledky vyhľadávania
- Automatic detection and counting of defects from cathodoluminescence maps of GaN layers / aut. Juraj Priesol, David Gellen, Alexander Šatka
Priesol Juraj ; 033000 Gellen David ; 030000 Šatka Alexander ; 033000
MECO 2023 : . [4] s.
object detection object counting 2D FFT segmentation CLAHE watershed Cathodoluminescence GaN quality assessment reliability
https://ieeexplore.ieee.org/document/10155031
článok zo zborníka
AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
článok
- Thermal stability of rhombohedral α- and monoclinic β-Ga2O3 grown on sapphire by liquid-injection MOCVD / aut. Filip Gucmann, Peter Nádaždy, Kristína Hušeková, Edmund Dobročka, Juraj Priesol, Fridrich Egyenes, Alexander Šatka, Alica Rosová, Milan Ťapajna
Gucmann Filip Nádaždy Peter Hušeková Kristína Dobročka Edmund Priesol Juraj ; 033000 Egyenes Fridrich Šatka Alexander ; 033000 Rosová Alica Ťapajna Milan
Materials Science in Semiconductor Processing . Vol. 156, (2023), Art. no. 107289 [9] s.
Ga2O3 Gallium oxide thermal stability MOCVD degradation
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1369800122008162
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisučlánok
- EBIC analysis of semi-insulating GaN/Si-doped GaN-on-GaN test structures for vertical GaN transistors / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Aleš Chvála, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Ján Kuzmík, František Uherek
Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Šichman Peter Hasenöhrl Stanislav Kuzmík Ján Uherek František ; 033000
WOCSDICE‐EXMATEC 2022 : . S. OP 94-95
článok zo zborníka
BEE - 13/Odborné práce v zahraničných zborníkoch (konferenčných aj nekonferenčných); 12/(len nerecenzované)
O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníkačlánok
- Cross-sectional SEM-EBIC analysis of semi-vertical GaN power diodes / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Matteo Borga, A Minj, Benoit Bakeroot, Karen Geens
Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Borga Matteo Minj A. Bakeroot Benoit Geens Karen
ASDAM 2022 : . S. 83-87
https://ieeexplore.ieee.org/document/9966747
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- On the preparation of GaN device cross-sections for EBIC analysis / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Daniel Haško, František Uherek
Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Haško Daniel Uherek František ; 033000
Fotonika 2022 : . S. 37-40
Cross-section mechanical polishing nano-polishing grinding vertical GaN EBIC
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- Charakterizácia poly-AlN podložiek metódami rastrovacej elektrónovej mikroskopie / aut. Alexander Šatka, Juraj Priesol, Andrej Vincze
Šatka Alexander ; 033000 Priesol Juraj ; 033000 Vincze Andrej
Fotonika 2022 : . S. 41-44
poly-AlN širokopásmový polovodič katódoluminiscencia rastrovacia elektrónová mikroskopia energetická disperzná röntgenová spektroskopia
článok zo zborníka
AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- Detekcia a počítanie porúch z panchromatických katódoluminiscenčných máp
Gellen David ; 033000 Priesol Juraj ; 033000 (škol.)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2021
FEI ; 01.07.2021 ; informatika ; B-API . - 56 s., príl.
https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=38F43C5054BC4F7F2DBAC1F31F28&seo=CRZP-detail-kniha
bakalárska práca
kniha
- Program na záznam a spracovanie obrazu z optického mikroskopu v prostredí NI LabVIEW
Glváč Roman ; 033000 Priesol Juraj ; 033000 (škol.)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2021
FEI ; 01.07.2021 ; informatika ; B-API . - 48 s., príl.
https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=38F43C5054BC4F7F2DBAC0F31F28&seo=CRZP-detail-kniha
bakalárska prácakniha
- Investigation of EBIC line profiles at the p-n junction by numerical simulations using Monte Carlo method / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Karen Geens
Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Geens Karen
SURFINT - SREN VII : . S. 49-50
článok zo zborníka
AFH - Abstrakty príspevkov z domácich konferencií
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkačlánok
- Analysis and modeling of vertical current conduction and breakdown mechanisms in semi-insulating GaN grown on GaN: Role of deep levels / aut. Roman Stoklas, Aleš Chvála, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Štefan Haščík, Juraj Priesol, Alexander Šatka, Ján Kuzmík
Stoklas Roman Chvála Aleš ; 033000 Šichman Peter Hasenöhrl Stanislav Haščík Štefan Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Kuzmík Ján
IEEE Transactions on Electron Devices . Vol. 68, No. 5 (2021), s. 2365-2371
Carrier compensation electrical breakdown Semi-insulating simulation space-charge-limited current Vertical transistor
https://ieeexplore.ieee.org/document/9384237
článok z periodika
ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisučlánok