Výsledky vyhľadávania

  1. Design and test technology for dependable systems-on-chip / ed. Raimund Ubar ; ed. Jaann Raik, Theodor Heinrich Vierhaus
    Ubar Raimund (ed.)  Raik Jaann (ed.) Vierhaus Theodor Heinrich (ed.)
    1. vyd.
    Hershey IGI Global 2011 . - 550 s.
    ISBN 978-1-60960-212-3
    monografia
    (2) - článok
    kniha

    kniha

  2. DefSim: CMOS Defects on Chip for Research and Education
    Pleskacz W.A.  Borejko T. Walkanis A. Stopjaková Viera ; E030 Jutman A. Ubar Raimund
    7th IEEE Latin American Test Workshop : . s.74-79
    článok zo zborníka
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  3. CMOS Defects Analysis Using DefSim Measurement Environment
    Pleskacz W.A.  Borejko T. Walkanis A. Stopjaková Viera ; E030 Jutman A. Ubar Raimund
    ETS '06 : . s.241-246
    článok z periodika
    AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    článok

    článok

  4. A tool for advanced learning of LFSR-based testing principles
    Jutman A.  Tsertov A. Ubar R.
    BEC 2006 [elektronický zdroj] : . s.175-178
    článok zo zborníka
    (1) - článok
    článok

    článok

  5. DefSim-Based Exercises for Studying in CMOS Gates
    Jutman A.  Pleskacz W.A. Ubar Raimund
    EWME 2006. Proceedings. 6th European Workshop on Microelectronics Education : . s.23-26
    článok zo zborníka
    (2) - článok
    článok

    článok

  6. DefSim: Measurement environment for CMOS defects
    Borejko T.  Jutman A. Pleskacz W.A. Ubar Raimund
    International Conference on Microelectronics. IMC 2006 : . s.679-682
    článok zo zborníka
    článok

    článok

  7. Handbook of Testing electronic Systems / Aut.: Novák O. a i.
    Novák Ondřej  Gramatová Elena ; 070400 Ubar Raimund Stopjaková Viera ; E030 Drábek Vladimír
    Praha : České vysoké učení technické v Praze, 2005 . - 395 s
    ISBN 80-01-03318-X
    elektronické systémy testovanie
    monografia
    ACA - Vysokoškolské učebnice vydané v zahraničných vydavateľstvách
    (4) - článok
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI0100
    FIIT1000
    kniha

    kniha

  8. Defects, faults, fault models
    Gramatová Elena ; I100  Ubar Raimund Pleskacz Witold Fischerová Mária
    Handbook of Testing electronic Systems / . s.26-96
    elektronický obvod defekty porucha generovanie testov testovateľnosť
    kapitola(článok) z dokumentu
    ACC - Kapitoly vo vysokoškolských učebniciach vydané v zahraničných vydavateľstvách
    článok

    článok

  9. Handbook of Testing electronic Systems / Aut.: Novák O. a i.
    Novák Ondřej  Gramatová Elena ; I100 Ubar Raimund Stopjaková Viera ; E030 Drábek Vladimír
    Praha : České vysoké učení technické v Praze, 2005 . - CD-ROM
    elektronické systémy testovanie
    príručka
    Fakulta Voľné Prezenčne Vypožičané Nedostupné
    FEI0100
    kniha

    kniha

  10. Test generation techniques and algorithms / aut. Raimund Ubar, Elena Gramatová, Mária Fischerová
    Ubar Raimund  Gramatová Elena ; 070100 Fischerová Mária
    Handbook of Testing electronic Systems / . S. 97-173
    kapitola(článok) z dokumentu
    ACC - Kapitoly vo vysokoškolských učebniciach vydané v zahraničných vydavateľstvách
    článok

    článok