Number of the records: 1

Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov

Title statement	Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov
Main entry-name	Vu Viet, Hoang (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Another responsib.	Benko, Peter Z2 (Thesis advisor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Translated title	Development of Applications for Automated Ruggedness Testing of Power Transistors
Issue data	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
Faculty	FEI
Date of acceptation	09.06.2020
Degreee discipline	elektrotechnika
Degree program	I-EN
Phys.des.	70 s.
Subj. Headings	výkonový tranzistor
	UIS test
	energetická odolnosť
	automatizované testovanie
	MOSFET
	UIS
	ruggedness test
	automated testing system
	MOSFET
	power transistor
Country	Slovakia
Language	Slovak
URL	https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=AFB64E0160B4F4E92046D59F9648&seo=CRZP-detail-kniha
Document kind	DDP - diplomová práca

citace PRO

Number of the records: 1