Number of the records: 1
Distribúcia elektricky aktívnych porúch v moderných polovodičových prvkoch na báze GaN
Title statement Distribúcia elektricky aktívnych porúch v moderných polovodičových prvkoch na báze GaN Main entry-name Matuš, Matej (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Another responsib. Stuchlíková, Ľubica Z1 (Thesis advisor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Translated title Distribution of electrically active defects in modern semiconductor devices based on GaN Issue data Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2022 Faculty FEI Date of acceptation 07.06.2022 Degreee discipline elektrotechnika Degree program I-EN Phys.des. 65 s. Subj. Headings GaN InAlGaN/GaN HEMT elektricky aktívne poruchy DLTFS MCTS GaN InAlGaN/GaN HEMT electrically active defects DLTFS MCTS Country Slovakia Language Slovak URL https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=4F55101800366CEF54FDC2DB109A&seo=CRZP-detail-kniha Document kind DDP - diplomová práca 
book
Number of the records: 1