výkonový tranzistor. UIS test. energetická odolnosť. automatizované testovanie. MOSFET. UIS. ruggedness test. automated testing system. MOSFET. power transistorVu Viet, Hoang Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov. -- Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020. -- 70 s. Benko, Peter