Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
Blyzniuk M.  Cibáková T. Gramatová Elena ; I100 Kuzmicz W. Lobur M. Pleskacz W.A. Raik J. Ubar Raimund
IEEE European Test Workshop 2000 : . s.69-74
digitálny obvod defekty porucha generovanie testov
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka