Search results
- Characterization and evaluation of current transport properties of power SiC Schottky diode / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Jakub Drobný, Ľubica Stuchlíková, Angelo Alberto Messina, Vincenzo Vinciguerra, Daniel Donoval
Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000 Messina Angelo Alberto Vinciguerra Vincenzo Donoval Daniel ; 033000
11th Solid State Surfaces and Interfaces conference : . S. 285-288
Power SiC Schottky diode Schottky barrier height Tunneling current FEM simulation
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2214785321045168
článok zo zborníka
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
article
- Defect distribution study of p+/n- GaN diode for high power applications / aut. Matej Matuš, Juraj Marek, Karen Geens, Matteo Borga, Hu Liang, Stefaan Decoutere, Herwig Hahn, Michael Heuken, Ľubica Stuchlíková
Matuš Matej ; 030000 Marek Juraj ; 033000 Geens Karen Borga Matteo Liang Hu Decoutere Stefaan Hahn Herwig Heuken Michael Stuchlíková Ľubica ; 033000
WOCSDICE‐EXMATEC 2022 : . S. OP 96-97
článok zo zborníka
BEE - Scientific works in not noticed year-books from international undertakings, foreign year-books
O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníkaarticle
- Electrical performance degradation of power p-GaN HEMTs exposed to repetitive short circuit conditions / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Aleš Chvála, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
WOCSDICE‐EXMATEC 2022 : . S. OP106-OP107
článok zo zborníka
BEE - Scientific works in not noticed year-books from international undertakings, foreign year-books
O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníkaarticle
- Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre 5G sieť
Benc Peter ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000 (Thesis advisor)
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2021
FEI ; Date of acceptation : 29.06.2021 ; Degreee discipline : elektrotechnika ; Degree program : B-ELN . - 43 s.
https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=CF9E62B1F4156FE3B82D0284D7C8&seo=CRZP-detail-kniha
bakalárska práca
book
- Skúmanie porúch v moderných tranzistorových štruktúrach pre výkonové aplikácie
Faraga Jan ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000 (Thesis advisor)
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2021
FEI ; Date of acceptation : 29.06.2021 ; Degreee discipline : elektrotechnika ; Degree program : B-ELN . - 54 s.
https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=FD5533CA5E14D63E45B76AE9A2AD&seo=CRZP-detail-kniha
bakalárska prácabook
- Skúmanie porúch v moderných polovodičových materiáloch
Juraško Jakub ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000 (Thesis advisor)
Bratislava : STU v BRatislave FEI, 2021
FEI ; Date of acceptation : 29.06.2021 ; Degreee discipline : elektrotechnika ; Degree program : B-ELN . - 61 s.
https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=FD5533CA5E14D63E45B56BE9A2AD&seo=CRZP-detail-kniha
bakalárska prácabook
- Analysis of current transport mechanism in AP-MOVPE grown GaAsN p-i-n solar cell / aut. Wojciech Dawidowski, Beata Sciana, Katarzyna Bielak, Miroslav Mikolášek, Jakub Drobný, Jarosław Serafińczuk, Iván Lombardero, Damian Radziewicz, Wojciech Kijaszek, Arpád Kósa, Martin Florovič, Jaroslav jr Kováč, Carlos Algora, Ľubica Stuchlíková
Dawidowski Wojciech Sciana Beata Bielak Katarzyna Mikolášek Miroslav ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Serafińczuk Jarosław Lombardero Iván Radziewicz Damian Kijaszek Wojciech Kósa Arpád ; 033000 Florovič Martin ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Algora Carlos Stuchlíková Ľubica ; 033000
Energies . Vol. 14, Iss. 15 (2021), Art. no. 4651 [18] s.
solar cell Dilute nitrides GaAsN reciprocal lattice maps J-V-T measurements carrier transport mechanism recombination thermionic field emission DLTS spectroscopy defects nitrogen interstitial
https://www.mdpi.com/1996-1073/14/15/4651
článok z periodika
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisuarticle
- Degradation of power SiC MOSFET under repetitive UIS and short circuit stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Michal Minárik, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
ISPS '21 : . S. 70-75
reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive unclamped inductive switching repetitive short circuit
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferencesarticle
- How does nitrogen incorporate into GaAsN epitaxial layers? / aut. Wojciech Dawidowski, Beata Ściana, J Jadczak, A Łozińska, V Manuel, M. C López-Escalante, M Gabás, Arpád Kósa, Jakub Drobný, Ľubica Stuchlíková, Damian Radziewicz
Dawidowski Wojciech Ściana Beata Jadczak J. Łozińska A. Manuel V. López-Escalante M. C. Gabás M. Kósa Arpád ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000 Radziewicz Damian
ADEPT 2021 : . S. 59-62
Dilute nitrides GaAsN nitrogen interstitial defects HRXRD XPS DLTFS Raman spectroscopy
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferencesarticle
- The influence of electrical stress on the distribution of electrically active defects in IGBT / aut. Jakub Drobný, Juraj Marek, Aleš Chvála, Jan Faraga, Martin Jagelka, Ľubica Stuchlíková
Drobný Jakub ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Faraga Jan ; 030000 Jagelka Martin ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
ISPS '21 : . S. 87-93
IGBT Deep energy levels electrically active defects the impact of electrical stress Deep Level Transient Fourier Spectroscopy
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferencesarticle