Search results
- Study of Effect of Phosphorous Cross-Contamination for Antimony Implantation on Electrical Properties of Semiconductor Devices
Kuruc Marián Hulényi Ladislav ; E210 Kinder Rudolf ; E030 Žiška Milan ; E030
EDS´09. Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2009 : . s.147-151
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Elektronické prvky a obvody [online učebnica]
Stuchlíková Ľubica ; E030 Redhammer Robert ; E030 Hulényi Ladislav ; E210
Bratislava : STU v Bratislave, 2009 . - [21 AH
ISBN 978-80-227-3181-2
http://ec.elf.stuba.sk/moodle/course/view.php?id=7
skriptá
ACB - Academic school-books issued in home editorship
P1 - Pedagogický výstup publikačnej činnosti ako celok - Application of spreading resistence profiling for monitoring of semiconductor technological processes = Využitie metódy rozptylového odporu na monitorovanie technologických procesov polovodičovej výroby : Dát. obhaj. 25.02.2010, č. ved. odb. 26-13-9
Kuruc Marián Hulényi Ladislav (Thesis advisor) ; E210 Kinder Rudolf (Thesis advisor)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009
FEI ; . - 120 s
elektronika rozptylový odpor technologické procesy monitorovanie procesov polovodiče
dizertačná práca
DAI - Qualificational works (thesis, habilitation, atestation...)Faculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 0 0 0 - Using Spreading Resistance Profiling and Simulations for Monitoring of Phosphorus Contamination in Ion Implantation of Arsenic
Kuruc Marián Hulényi Ladislav ; E210 Kinder Rudolf ; E030
EDS´08. Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2008 : . s.103-108
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Factors Influencing the Electrical Properties of Organic Thin Film Transistors
Kinder Rudolf ; E030 Kováč Jaroslav ; E030 Jakabovič Ján ; E030 Harmatha Ladislav ; E030 Hulényi Ladislav ; E210
EDS´08. Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2008 : . s.109-114
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Analysis and Correction of Carrier Spilling Effect for Different Si Structures
Kuruc Marián Hulényi Ladislav ; E210 Kinder Rudolf ; E030
Journal of Electrical Engineering . Vol. 59, No. 6 (2008), s.302-309
článok z periodika
ADF - Scientific titles in home not carented magazines and other year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu - Interaktívne animácie ako súčsť elektronického vzdelávania
Nagy Arnold ; E Stuchlíková Ľubica (Thesis advisor) ; E030 Hulényi Ladislav (Thesis advisor) ; E210
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2008 . - 62 s
elektronika Mikroelektronika
diplomová práca - Improved Determination of Phosphorus Contamination during Ion Implantation by SRP and Simulations
Kuruc Marián Hulényi Ladislav ; E210 Kinder Rudolf ; E030
Applied Surface Science . Vol. 255 (2008), s.8110-8114
článok z periodika
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu - Monitoring of Phosphorus Cross-Contamination in Ion Implantation of Arsenic by Spreading Resistance Profiling and Simulations
Kuruc Marián Hulényi Ladislav ; E210 Kinder Rudolf ; E030
ElectroScope [elektronický zdroj] . mimoriadne č. (konference EDS) (2008), s.http://147.228.94.30/index.php?option=com_content&task=view&id=154&Itemid=38
článok z periodika
GHG - Works carried in Internet
I3 - Iný výstup publikačnej činnosti z časopisu - Analysis of Carrier Spilling Effect for Different Si Structures
Kuruc Marián Hulényi Ladislav ; E210 Kinder Rudolf ; E030
APCOM 2007. Applied Physics of Condensed Matter : . s.155-158
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka