Search results
- X-Ray Metrology in Semiconductor Manufactoring
Bowen D.Keitn Tanner Brian K
Boca Raton : CRC Press, 2006 . - 279 s
ISBN 0-8493-3928-6
röntgenová spektroskopia röntgenová fluorescenčná analýza náuka o materiáloch röntgenografia fyzika tuhých látok polovodiče integrované obvody polovodičové platne fluoroskopia
monografiaFaculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 0 0 0 1