Počet záznamov: 1
Characterization of monolithic InAlN/GaN NAND and NOR logic gates supported by circuit and device simulations
Údaje o názve Characterization of monolithic InAlN/GaN NAND and NOR logic gates supported by circuit and device simulations / aut. Aleš Chvála Záhlavie-meno Chvála, Aleš, 1981- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Nagy, Lukáš, 1985- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Marek, Juraj, 1983- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Priesol, Juraj, 1986- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Donoval, Daniel, 1953- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Blaho, Michal, 1982- (Autor) Gregušová, Dagmar (Autor) Kuzmík, Ján (Autor) Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In WOCSDICE 2019 / Workshop on compound semiconductor devices and integrated circuits held in Europe (Wocsdice 2019). -- Cabourg, 2019. -- [2] s. Jazyk dok. angličtina Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória BEE - 13/Odborné práce v zahraničných zborníkoch (konferenčných aj nekonferenčných); 12/(len nerecenzované) Kategória od 2022 O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka Rok 2019 
článok
Počet záznamov: 1