- Using Spreading Resistance Profiling and Simulations for Monitoring o…
Počet záznamov: 1  

Using Spreading Resistance Profiling and Simulations for Monitoring of Phosphorus Contamination in Ion Implantation of Arsenic

  1. Údaje o názveUsing Spreading Resistance Profiling and Simulations for Monitoring of Phosphorus Contamination in Ion Implantation of Arsenic
    Záhlavie-meno Kuruc, Marián (Autor)
    Ďal.zodpovednosť Hulényi, Ladislav, 1938- (Autor) - FEI Katedra mikroelektroniky
    Kinder, Rudolf, 1940- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    In EDS´08. Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference 2008 : Brno, Czech Republic, 10.-11.9.2008. -- Brno : VUT v Brně, 2008. -- ISBN 978-80-214-3717-3. -- s.103-108
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.RZB - článok zo zborníka
    KategóriaAFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách
    Kategória od 2022V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Rok2008
    článok

    článok

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.