Počet záznamov: 1
Application of IDDT Test in SRAM Arrays Towards Detection of Weak Opens
CREPC201502 CREPC201503 CREPC201506 Údaje o názve Application of IDDT Test in SRAM Arrays Towards Detection of Weak Opens : dát. obhaj. 24.6.2014, č. ved. odb. 26-13-9 Záhlavie-meno Gyepes, Gábor, 1985- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Stopjaková, Viera, 1968- (Školiteľ (konzultant)) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Prekl.náz Aplikácia IDDT testu na pokrytie prerušení v SRAM poliach Vyd.údaje Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2014 Fakulta FEI Dátum obhajoby 24.06.2014 Študijný program 99 Fyz.popis 98 s AUTOREF. 2014, 36 s. Predmet.heslá Mikroelektronika Microelectronics Krajina Slovensko, Slovenská republika Jazyk dok. angličtina URL http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=113990 Druh dok. DDZ - dizertačná práca Kategória DAI - Dizertačné a habilitačné práce Rok 2014 
kniha
Čiar.kód Lokačná signatúra Signatúra Lokácia Dislokácia Info 284ED01446 E*ZP-310 Fakulta elektrotechniky a informatiky Knižnica FEI
Počet záznamov: 1