Application of IDDT Test in SRAM Arrays Towards Detection of Weak Opens : dát. obhaj. 24.6.2014, č. ved. odb. 26-13-9
Gyepes Gábor ; E030  Stopjaková Viera (škol.) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2014
FEI ; 24.06.2014 ; 99 . - 98 s AUTOREF. 2014, 36 s.
Mikroelektronika Microelectronics
http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=113990
dizertačná práca
DAI - Dizertačné a habilitačné práce